Abkürzung für Embedded-Tests
Ein vollständiger Systemtest von Embedded-Firmware benötigt enorme Ressourcen und findet doch meist zu wenige Fehler. Open-Loop-Tests schaffen Abhilfe.
Das Testen von Software für Embedded-Systeme bringt besondere Herausforderungen mit sich. Ein charakteristisches Merkmal eingebetteter Software besteht darin, dass sie mit der einbettenden Umgebung interagiert, bei Mikrocontrollern etwa über Peripherie-Pins. Beispielsweise schaltet oder liest die GPIO-Peripherie (General Purpose Input/Output) ein elektrisches Signal. Die CAN-Peripherie (Controller Area Network) sendet und empfängt ganze Nachrichten-Frames. Die Software, die diese Peripherie steuert und damit am Übergang zwischen Software und Hardware arbeitet, wird als Treiber bezeichnet. Solche Übergänge sind mit dem herkömmlichen Vorgehen besonders schwer zu testen. Open-Loop-Tests als Vorstufe zum Systemtest bieten dafür eine effiziente Möglichkeit und können daher einen Beitrag leisten, die traditionelle Testpyramide auch bei Embedded-Systemen sinnvoll umzusetzen (Abbildung 1).
Closed Loop versus Open Loop
Open Loop ist ein Begriff aus der Regelungstechnik, in der es darum geht, durch Beeinflussen eines Prozesses einen gewünschten Zustand am Ausgang herzustellen. Closed-Loop-Regler messen kontinuierlich den Ausgang. Aus der Abweichung zwischen Soll- und Istzustand lässt sich ein Stelleingriff berechnen. Open-Loop-Regler steuern blind einen Prozess und sind somit unabhängig vom aktuellen Systemzustand. Das vereinfacht die Handhabung (Abbildung 2).